HS PA30-X相控阵仪

相控阵仪是基于相控阵超声技术的高端无损检测设备，通过控制阵列探头上多个阵元的激发时序，形成可聚焦、可偏转的超声波束，对工件内部及表面近表面的裂纹、夹杂、气孔、未焊透等缺陷进行精准检测与定量分析，广泛应用于航空航天、核电、管道、压力容器、轨道交通等对检测精度要求极高的行业。

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产品详情

波束操控灵活，可实现扇扫、线性扫查、动态聚焦等多种扫查模式，能适配复杂形状工件，全面覆盖检测区域。检测效率与精度双高，单次扫查即可获取丰富检测数据，支持缺陷大小、深度、位置的精准量化，成像直观（如 B 扫、C 扫图像）。数据处理与存储能力强，可实时记录检测数据、图像，支持后期回放分析与报告生成，数据可追溯性强。适配性广，兼容不同频率、规格的相控阵探头，可检测金属、非金属等多种材质，满足厚壁件、复杂焊缝等特殊检测需求。